As I Xornadas Ibéricas de Metroloxía e calidade celébranse mañá e o venres no auditorio do Centro de Innovaçao e Logística de Valença
O alcalde de Tui, Enrique Cabaleiro, e o presidente da Cámara de Valença, Jorge Salgueiro Mendes, serán mañá ás 10.30 hora española os encargados da apertura das I Xornadas Ibéricas de Metroloxía e Calidade no auditorio do Centro de Innovaçao e Logística de Valença, xunto ao presidente do Instituto Politécnico de Viana do Castelo, IPVC, Rui Teixeira.
Estas I Xornadas Ibéricas de Metroloxía e Calidade están promovidas pola Eurocidade Tui-Valença xunto á Escola Superior de Ciencias Empresariais, ESCE, do Instituto Politécnico de Viana do Castelo. Están formadas polo III Seminario Ibérico de Metroloxía e polo VIII Forum de Calidade ESCE-IPVC. Tras o éxito das anteriores edicións do Seminario Ibérico estas xornadas ofrecerán unhas serie de relatorios tanto sobre metroloxía coma sobre xestión da calidade, con atención especial á nova normativa ISO 9001:2015, e pondo en debate a metroloxía na era dixital. Nas mesmas van participar especialistas tanto portugueses coma españois brindando a oportunidade de intercambiar experiencias, comparar metodoloxías e métodos de traballo. Tamén se darán a coñecer casos de colaboracións e proxectos conxuntos nestes ámbitos entre España e Portugal.
Como novidade este ano creouse o Premio Excelencia e Calidade Eurocidade Valença-Tui 2016 ao que concorreron empresas tanto do Alto Minho coma da provincia de Pontevedra. Co mesmo a Cámara de Valença e a ESCE buscan premiar ás organizacións e empresas que teñan desenvolvido acción para mellorar na súa eficiencia e competitividade aplicando ferramentas coma 5S, SMED, TPM, Lean, 6 Sigma, ou outras en sectores coma a industria, servizos, comercio e agricultura e pesca.
Tras o acto de apertura mañá ás 11 hora española comezará o primeiro dos paneis previstos sobre “A Metroloxía na Era Dixital”. Moderado por Juan Carlos Lago de TRW contará coa intervención de José Luís Prieto, director de metroloxia do LOMG co título “Falamos de metroloxía”, e de Susana Costa e Silvia Silva da QTEC sobre “Calibracións e verificación de EMN na área dos ensaios e inspeccións”.
Luís Lorenzo Esperante da SIL moderará o segundo panel que comezará ás 12h coa intervención de Luís Pires de ABIMOTA e André Mendes de LABMETRO.
A partir das 15h abordarase “A metroloxía dixital: prácticas e solucións” en dous paneis. No primeiro intervirán Isabel Godinho do Instituto Português da Qualidade (IPQ) e Salustiano Ruiz Gonzalez do Centro Español de Metroloxía (CEM), exercendo de moderador António Alberto Silveira do ISEP. Unha hora despois Paulo Cabral do IEP moderará o cuarto panel coa participación de Ângela Peixoto de J.M.Fernandes & Filhos SA e de Agustin Paz do AIMEN. Pecharase a xornada cunha mesa redonda sobre os “Desafíos na era dixital” moderada por José Carlos Sá, ESCE-IPVC e coa participación de Luís Lorenzo Esperante do SIL, Carlos Sousa do ISEP e Xosé António Iglésias do SISPECO.
O venres dende ás 10.30 hora española desenvolverase o VIII Forum de Calidad ESCE-IPVC coa participación de Gianluca Mulé da European Foundation for Quality Management (EFQM) e de Ricardo Fernandes do Instituto Português de Qualidade (IPQ). Posteriormente en distintos paneis presentaranse casos prácticos de melloras na calidade realizados pola Forza Aérea Portuguesa, Bureau Veritas, Porcelana da Costa Verde, S.A., BorgWarner ou a Santa Casa da Misericórdia de Vila do Conde.
Ampliar información – Consultar programa